熱門搜索：
P760/01_2760nm單模垂直腔面發射激光器
VCSEL-20-M激光控制驅動器
ZNSP25.4-1IR拋光硫化鋅(ZnS)多光譜(透明)窗片 0.37-13.5um 25.4X1.0mm（晶體/棱鏡
CO2激光光譜分析儀
Frequad-W-CW DUV 單頻連續激光器 213nm 10mW Frequad-W
HB-C0BFAS0832x4 QPSK C波段相干混頻器（信號解調/鎖相放大器等）
ER40-6/125截止波長1300nm 高摻雜EDF摻鉺光纖
THL-ZnTe20-500RZNTE（碲化鋅）太赫茲晶體
GD5210Y-2-2-TO46905nm 硅雪崩光電二極管 400-1100nm
SNA-4-FC-UPC日本精工法蘭FC/UPC（連接器/光纖束/光纜）
IRV2000-1X1倍紅外觀察鏡 350-2000nm,分辨率 60lp/mm
NANOFIBER-400-9-SA干涉型單模微納光纖傳感器 1270-2000nm
1030nm超短脈沖種子激光器PS-PSL-1030
高能激光光譜光束組合的光柵 （色散勻化片）
FLEX-BF裸光纖研磨機
S+C+L波段 160nm可調諧帶通濾波器
product
產品分類
FS70-TH 用于半導體檢測顯微鏡 (1X管鏡頭 可調光通比 C-mount接口)（觀察儀） 應用： 切割、修整、校正、 給半導體電路做標記 薄膜(絕緣膜) 清潔與加工、液晶彩色濾光器的修復(校正錯誤)。 還可用作光學觀察剖面圖以便探針分析半導體故障。 ? 可用于紅外光學系統*。
更新時間：2024-12-09
產品型號：
瀏覽量：862
FS70Z-TH 用于半導體檢測顯微鏡 (1x-2x管鏡頭 C-mount) （觀察儀） 應用： 切割、修整、校正、 給半導體電路做標記 薄膜(絕緣膜) 清潔與加工、液晶彩色濾光器的修復(校正錯誤)。 還可用作光學觀察剖面圖以便探針分析半導體故障。 ? 可用于紅外光學系統*。
更新時間：2024-12-09產品型號：瀏覽量：857
FS70Z 用于半導體檢測顯微鏡 (1x-2x管鏡頭 固定光通比50/50 C-mount) （觀察鏡） 特點 采用Mitutoyo遠場校正鏡頭 三端輸出設計可輕松接收視頻 轉盤可接最多四個物鏡
更新時間：2024-12-09產品型號：瀏覽量：810
FS70L4-TH 用于半導體檢測顯微鏡 (1x管鏡頭 C-mount帶開關) (觀察鏡) 應用： 切割、修整、校正、 給半導體電路做標記 薄膜(絕緣膜) 清潔與加工、液晶彩色濾光器的修復(校正錯誤)。 還可用作光學觀察剖面圖以便探針分析半導體故障。
更新時間：2024-12-09產品型號：瀏覽量：912
3倍紅外觀察鏡 1700nm 分辨率 60lp/mm 紅外觀察鏡是將觀測物體所反射或發射的光聚焦到攝像管里而進行觀測的。電子攝像管是根據光譜發射強度和陰極材料的 S-1 光譜靈敏性而選制的。它通過持續按住儀器上的按鈕來提供所需電源。一旦加上電壓，內置的3V 電池產生16-18KV 的高壓，足以加速電子攝像管中的電子至觀測屏。輸出的綠色的熒光（波長550nm）可以通過調整目鏡看到。
更新時間：2025-01-20產品型號：WLTL-100-1490-PM-3.0瀏覽量：1070
當前位置：
